X射線顯微鏡憑借其突破性技術和高分辨率探測器，將3DX射線顯微鏡(XRM)的性能提升至新的高度，為各種尺寸的樣品提供亞微米級成像解決方案。保持先進的大樣品高分辨率技術優勢的同時，該系統可實現高達500nm空間分辨率。該產品通過使用更高分辨率的光學元件，實現分辨率的改善和突破。與此同時，該產品還加入了更多的智能的元素，并且具有更廣闊的拓展能力。

　　X射線顯微鏡應用領域：

　　1. 材料科學，如三維無損分析

　　2. 生命科學，如微觀結構成像

　　3. 地球科學，如地質、油氣三維成像

　　4. 半導體行業，如電子封裝失效分析

　　5. 支持原位實驗條件下的三維成像

　　X射線顯微鏡是一種非侵入性和非破壞性成像技術，在不破壞樣品的情況下，利用X射線對樣品進行掃描，能夠獲得掃描樣品的一個三維圖像，獲取內部詳盡的三維結構信息。在地學領域，在對表征和定量分析巖石孔隙結構、測量滲流、研 究儲碳過程、分析尾礦、大化開采效率、巖性礦物相分析方面具有其它設備無法替代的優勢；對珍貴的實體化石以及其他巖石樣品的三維無損成像，在不破壞標本的前提下，全面同時獲取化石或樣品的外觀形態和內部結構信息，并且可以實現化石形態和內部結構的三維可視化，幾乎可以用于所有門類古生物學的研究。此外，在生命科學、油氣地質學、沉積學、考古學、材料科學和電子學領域也廣泛應用。

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