徠卡顯微鏡背散射電子像有較強的成分襯度。但是與二次電子像類似，徠卡顯微鏡成分襯度常與形貌襯度同時存在，所以要設法加以分離.為此徠卡要充分利用上述特性.令探頭有效面積對樣品上一點所張的角定義為探測器的立體角，探頭中心線與樣品表面間夾角定義為探測器的檢出角.對于大角度傾轉的樣品，例如奧林巴斯CX31顯微鏡，用小立體角的探頭放在接近樣品表面的低檢出角處，則測得的信號很強，而且徠卡顯微鏡價格能靈敏反映樣品表面局部形貌的變化，形貌襯度強徠卡顯微鏡非線性放大(也稱灰度或廠控制)一這種處理目的是顯微鏡局部放大圖像中某電平范圍內的信號差值。如果原始襯度給出的圖像信號電平覆蓋范圍很大，而人們感興趣的只是近黑電平(即強度zui低值)或白電平(強度zui高值)區(qū)的一部分信息細節(jié)，便可用非線性放大單元來放大感興趣區(qū)的信號以顯示出其中更多細節(jié).

　　徠卡顯微鏡為工業(yè)質量檢測和實驗室應用設計的體視顯微鏡，簡單易用，經濟實惠。制造商依賴于可靠和承受的質量管理來保證產品的合格率，而視頻質量檢查一向是質量管理的總環(huán)節(jié)；徠卡顯微鏡E系列的設計既是旨在以zui小的質量管理成本來幫助我們消除昂貴的質量缺陷和浪費的生產力。在研發(fā)領域，性能穩(wěn)定、零維護費用的徠卡顯微鏡E系列更能確保率的實驗室操作，減少停機時間。當我們面對一個細節(jié)復雜、工作距離很長，需要很多工具來輔助檢查的高亮樣本時，徠卡顯微鏡將是我們大家理想的選擇。

　　徠卡顯微鏡背散射電子象也偶有可能顯示晶體襯度，如形成單晶樣品的電子通道圖樣，或多晶樣品的取向襯度像，這些對研究晶體的結晶學特性很有用處.